Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ermöglicht die hochauflösende Untersuchung von Oberflächenstrukturen, Morphologien und Materialeigenschaften im Mikro- und Nanometerbereich.
Durch die detaillierte Darstellung von Partikeln, Fasern, Schichten und Oberflächen können Struktur-Eigenschafts-Beziehungen analysiert sowie Entwicklungs-, Optimierungs- und Fehleranalyseprozesse unterstützt werden.
- Untersuchung von Morphologie und Oberflächenstruktur
- Bestimmung von Partikelform und Größenverteilung
- Analyse von Agglomerations- und Dispersionszuständen
- Charakterisierung von Rauheiten und Defekten
- Untersuchung von Fremdpartikeln
- Vergleichende Analysen von Materialien und Herstellungsprozessen
Probenanforderungen
Die Anforderungen an die Probe richten sich nach Materialeigenschaften und Untersuchungsziel. Geeignet sind beispielsweise Pulver, Partikel, Fasern, Beschichtungen, Biomaterialien und feste Oberflächen. Nanomaterialien können aus Dispersionen auf geeignete Trägermaterialien aufgebracht werden. Nichtleitende Proben werden bei Bedarf vor der Messung mit einer dünnen leitfähigen Schicht beschichtet.
Elementanalyse (EDX)
Ergänzend zu den REM-Aufnahmen können mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX) die elementare Zusammensetzung sowie die Verteilung anorganischer Bestandteile analysiert werden.
- Qualitative und semiquantitative Elementbestimmung
- Elementverteilungsanalysen (Mapping, Linien-Scans und Punktanalysen)
- Identifikation anorganischer Bestandteile und Verunreinigungen
Fraunhofer-Institut für Zelltherapie und Immunologie, Institutsteil Bioanalytik und Bioprozesse IZI-BB
